Microscopio a forza atomica
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microscopio afm a forza atomica
Marca: NANBEI
Modello：AFM
Atomic Force Microscope (AFM), uno strumento analitico che può essere utilizzato per studiare la struttura superficiale dei materiali solidi, inclusi gli isolanti.Studia la struttura superficiale e le proprietà di una sostanza rilevando l'interazione interatomica estremamente debole tra la superficie del campione da testare e un elemento sensibile alla microforza.
